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  • YY0290-C人工晶狀體光學(xué)偏心的測(cè)試

    人工晶狀體光學(xué)偏心的測(cè)試用于測(cè)試人工晶狀體在一個(gè)處方直徑內(nèi)的光學(xué)偏心。按標(biāo)準(zhǔn)提供一套符合要求的EXCEL格式測(cè)試報(bào)告軟件,其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計(jì)算公式。*符合YY0290-2008附錄C相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)完成。

    更新時(shí)間

    2024-11-21

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

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  • YY0290-W人工晶狀體壓縮力下軸向位移測(cè)試儀老品牌

    人工晶狀體壓縮力下軸向位移測(cè)試儀老品牌*符合YY0290-2008相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。由鍵盤(pán)控制液晶顯示屏上的菜單,平均值、Z大值、Z小值等;自動(dòng)輸出數(shù)據(jù)報(bào)告,機(jī)載打印測(cè)試數(shù)據(jù),通過(guò)高精度的千分表來(lái)測(cè)量位移,數(shù)值傳送顯示屏并打印。

    更新時(shí)間

    2024-11-22

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  • YY0290-F專(zhuān)業(yè)檢測(cè)人工晶狀體壓縮力衰減測(cè)試儀

    專(zhuān)業(yè)檢測(cè)人工晶狀體壓縮力衰減測(cè)試儀用于測(cè)試人工晶狀體在規(guī)定時(shí)間內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下在一個(gè)處方直徑內(nèi),測(cè)量殘余壓力。*符合YY0290-2008相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)完成。

    更新時(shí)間

    2024-11-21

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  • YY0290-W遠(yuǎn)梓直銷(xiāo)人工晶狀體壓縮力下軸向位移測(cè)試儀

    遠(yuǎn)梓直銷(xiāo)人工晶狀體壓縮力下軸向位移測(cè)試儀*符合YY0290-2008相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。由鍵盤(pán)控制液晶顯示屏上的菜單,平均值、Z大值、Z小值等;自動(dòng)輸出數(shù)據(jù)報(bào)告,機(jī)載打印測(cè)試數(shù)據(jù),通過(guò)高精度的千分表來(lái)測(cè)量位移,數(shù)值傳送顯示屏并打印。

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    2024-11-21

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  • YY0290-D遠(yuǎn)梓供應(yīng)人工晶狀體光學(xué)傾角的測(cè)試圖片

    遠(yuǎn)梓供應(yīng)人工晶狀體光學(xué)傾角的測(cè)試圖片按標(biāo)準(zhǔn)提供一套符合要求的EXCEL格式測(cè)試報(bào)告軟件,其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計(jì)算公式。

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    2024-11-21

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  • JJPL14214-A 鏡片架疲勞測(cè)試儀*

    JJPL14214-A 鏡片架疲勞測(cè)試儀**符合GB/T 14214-2003規(guī)定。

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    2024-11-21

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  • JJQD14214-A 鏡片架機(jī)械性能測(cè)試儀

    JJQD14214-A 鏡片架機(jī)械性能測(cè)試儀*符合GB/T 14214-2003規(guī)定。

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    2024-11-21

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  • JPQD11984-A鏡片機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試儀

    JPQD11984-A 鏡片機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試儀采用數(shù)字閉環(huán)控制,AD采集速度為500KHz,內(nèi)碼100萬(wàn);高精度時(shí)鐘芯片,斷電存儲(chǔ);PLC可編程控制,動(dòng)態(tài)顯示加載距離;過(guò)載報(bào)警停機(jī)保護(hù)。

    更新時(shí)間

    2024-11-21

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